DIN EN 60825-1 : 2015-07 ; VDE 0837-1:2015-07 [ZURÜCKGEZOGEN]
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Gegenüber DIN EN 60825-1 (VDE 0837-1):2008-05, DIN EN 60825-1 Berichtigung 1 (VDE 0837-1 Berichtigung 1):2008-12 und DIN EN 60825-1 Berichtigung 2 (VDE 0837-1 Berichtigung 2):2009-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Die gesamte Struktur der Norm wurde umgestellt, um eine, nach Auffassung des TCs, bessere schrittweise Vorgehensweise bei der Anwendung zu ermöglichen. b) Messbedingung 2 (Mikroskope und Lupen) wurde entfernt mit Hinweis auf handelsübliche Vergrößerungsgeräte (werden mit Bedingung 1 bereits abgedeckt) und den anwendungsspezifischen Teil 60825 2 der Norm für LWLKS, wo tatsächlich Mikroskope im Zusammenhang mit Lasern benutzt werden. c) Eine Klasse 1C inkl. entsprechender technischer Anforderungen wurde neu eingeführt, insbesondere für bereits vorhandene Geräte zur kosmetischen/therapeutischen Laserbehandlung der Haut. d) Die Grenzwerte, Messverfahren und insbesondere die Vorgehensweisen bei der Bewertung gepulster Quellen wurden an einigen Stellen dem aktuellen Stand der betreffenden neu überarbeiteten ICNIRP-"Guidelines" angepasst.